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各種調芯装置納入実績ページを更新しました |
| NEW！ シリコンフォトニクス光部品実装装置 PGAL-3000シリーズ | ||||
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◎概要 シリコンフォトニク光部品実装装置、PGAL-3000シリーズはシリコンフォトニクスチップと接続して使用されるファイバー、ファイバーアレイ（FA）、SOA等の光部品の間を調芯、実装する装置です。 基板上のシリコンフォトニクスチップは自動6軸（X,Y,Z,θx,θy,θz）のセンターステージ部へセットされます。SiPチップの位置は上方カメラにより計測され、ステージにより位置調整されます。 ◎特徴 1） 単芯ファイバ-、FA、SOAとSiPチップの実装に対応できます。 2） 各光部品の面合わせはレーザ角度・位置センサーにより非接触で行います。 3） 面合わせの角度精度は±0.05°以内、位置精度は±0.1μm以内です。 4） 突き当て面合わせも可能です。 5） PZTを使用した高精度高速調芯ができます。 6） プログラムはユーザーにより改造可能です。 カタログは→ 
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| NEW！ 配光角度分布測定装置 LADA-200 | ||||
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LADA-200メカニカルスキャン配光分布測定装置は光センサーまたは光ファイバーを回転機構と揺動アームにより極座標走査させ、回転方向360ﾟ×摺動方向±90ﾟの配光分布（FFP）を測定します。測定時間は回転方向10ﾟ間隔の測定で最速約30秒です。 測定可能な波長域は標準仕様では可視域350〜1100nm広帯域500〜1700nmです。センサーを選択することで遠紫外〜可視〜遠赤外更には電磁波領域まで対応できます。測定パワー、感度についてはμWからkWまで測定対象光源の用途に拠り装置構成が異なりますのでお問合せ下さい。 測定対象はファイバーレーザ、半導体レーザ、LED、OLED、Mini-LED、μLED光源、回折型光学素子(DOE)、レンズ等の光学部品、光学系の光線追跡などの他、光検出器の代わりに励起光源を光路中に配置してセンサーや太陽電池等の変換角度分布測定、化学試料、物質の蛍光、反射、散乱等の角度分布計測も可能です。測定角度範囲は0.01ﾟから90ﾟまで選択でき最小分解能は0.002ﾟです。更に試料の中心位置を調整する測定系をオプションで選択できます。 価格 基本構成500万円〜 カタログは→
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| セルフ-センタリングワッシャ 新製品開発中 | ||||
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| ◎ワッシャの自己調心機能により、ネジ締結と同時に自己調芯位置決めされます ◎位置決め作業やガイドピン、ガイド構造を省略できます ◎必要な加工は基台側のメネジ加工と部材側の貫通穴（普通公差）加工のみ ◎ワッシャと皿ネジを仮止め後、部材をセットし、ネジを締めれば締結完了です ◎皿ネジを1/4〜1/2回転するだけで瞬時に部材の締結、リリースができます ◎部材リリース時にワッシャとネジは基台側に残り、交換作業時間は1/3で済みます ◎締結、交換時に部材を両手で扱えるので作業が簡単、安全、安心 ◎ネジ、ワッシャが表面に出っ張らないのでスマート、安全 ◎ワッシャは再利用でき、皿ネジは市販品を使うためエコノミーです ◎ワッシャは高精度切削加工品ですが安価です。（＠500円より） カタログは→
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  仮止め状態の外観 応用例(小パネル) |
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| 青色LDファイバ高出力LD光源0.5~4W PLS-1000S |
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PLS-1000Sは、中心波長450nm高出力青色LDファイバモジュールと電源・駆動回路を組合せたレーザ光源です。
電源オン後直ちにレーザ光を出力します。 出力発光パワーはボリューム調整（1回転または10回転）により、ゼロ付近から最大出力まで連続可変できます。 レーザーは空冷、安定したパワーを出力します。 0.5W〜4Wの間でご指定頂ければ、出力をカスタマイズ致します。 価格：お問い合わせください カタログはこちら→
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低価格1.2W青色LDピグテイルモジュール 
3Ｗタイプ在庫あります、お問い合わせください。 |
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| 波長450nmの半導体レーザとマルチモードファイバを結合したピグテイルモジュールです。 半導体レーザから出射されたビームを非球面レンズでファイバに集光し、出射端のFC/PCコネクタより最大約1.2Wの光を出力します。 モジュール筐体には銅製の放熱ホルダが取り付けられていますので、ペルチェや水冷を行うことなく空冷でモジュールを動作させることが可能です。 低価格1.2W青色LDピグテイルモジュール紹介ページ |
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