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特徴・用途 |
価格 |
カタログ |
スキャン方式FFP計測装置
FFP1003
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LD・LED・光ファイバなどからの出射光ビームの拡がり角度分布を自動測定するシステムです。
検出器としてPDを用いることにより、短波長帯・長波長帯を問わず、高感度・高ダイナミックレンジな計測を実現しています。ニ軸スキャン方式の採用により、Xプロファイル・XYプロファイルだけでなく、三次元プロファイルの計測まで可能としています。
高精度に調整されたスキャン・回転光学系を外部PCで制御することにより、簡単に高精度なFFP計測が可能です。
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\4,000,000〜 |
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リアルタイムFFP計測装置
FFP1005
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光導波路、SMファイバ、MMファイバ、POF、半導体レーザから出射される光ビームの拡がり角度を計測するシステムです。 カメラ方式と専用光学系の組合せにより、二次元放射角度強度分布をリアルタイム計測します。
水平軸±22.9°(NA0.39)、垂直軸±18.3°(NA0.31)の範囲を、分解能0.071°(0.6mrad)でリアルタイムに解析します。
カメラとしてCCDカメラを採用しておりますので、計測波長範囲は400nm〜1100nmです。
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\900,000〜 |
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高機能NFP測定光学系
NFP1005
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LD・LEDやファイバからの出射ビームのNFP(ニアフィールドパターン)をカメラ撮像方式により計測する光学系です。
本光学系は、複数の計測ポートを有しておりますので、目的とするセンサを搭載することにより、NFP計測だけでなく、絶対パワー測定・波長測定などを同時に行うことができます。レボルバ方式により対物レンズの倍率を可変することもできますので、微少な発光面の位置合せも容易です。またLED照明ポートも有しておりますので、サンプル面の画像をリアルタイムで観察することができます。
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\1,500,000〜
構成により変動します。お問合せください。 |
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簡易型NFP計測装置
NFP1006
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光導波路、SMファイバ、MMファイバ、POF、半導体レーザ出射端のビーム形状を計測するシステムです。 カメラ方式と専用光学系の組合せにより、二次元強度分布をリアルタイム計測します。
最大×100倍の拡大機能により、分解能0.07μmで計測します。 カメラとしてCCDカメラを採用しておりますので、計測波長範囲は400nm〜1100nmです。
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\950,000〜 |
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ウェハレベル光素子テストシステム
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LED・VCSEL・OLED等発光素子や、Si・InGaAs・Geフォトダーイオード等受光素子の電気特性・光学特性をウエハレベルで検査解析するシステムです。 システムは、セミオートプローバシステム・高機能NFP光学系またはレーザ照射光学系・各種電気光学測定器・制御測定解析用統合ソフトウェアで構成されます。 セミオートプローバシステムには、半導体製造・検査装置分野で卓越した性能を誇るドイツ・ズースマイクロテック社製システムを採用しています。 |
構成により変動します。お問合せください。 |
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小型軽量SMファイバ出力LD安定化光源
LDS1003
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ピグテイルLDモジュールと駆動回路を組合せた小型軽量の低価格LD光源です。調整不要で、電源オン後直ちに1mWのLD光を出力します。 LD種類により、400nm帯〜1650nm帯で波長選択できます。 駆動回路はAPC機能を内蔵していますので、長時間安定した出力が得られます。
FFP、NFP用テスト光源に最適です。 |
\135,000〜\180,000
(400nmを除きます) |
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ソースメータ機能付き多出力直流電源
VI1002
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最大32チャンネルの独立した定電流・定電圧を発生させることが可能な簡易型・低コスト電源です。 ソースメータ機能を搭載しており、チャンネル毎の負荷電流・負荷電圧を測定できます。 LDやLEDの発光駆動電源として、FFP計測、NFP計測等の用途に使用できます。 |
4出力:\500,000〜32出力:\2,300,000 |
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