製品名 特徴・用途 カタログ
フォトダイオード光学特性測定用
レーザ照射光学系
PDIC1001
光ピックアップ用等のフォトダイオードに円形かつ均一な変調LD光を照射し、フォトダイオードの各種光学特性を測定するための光学系です。レーザ駆動装置はAPCによる出力安定化が図られ、10kHz-1GHzの外部変調が可能です。また、レーザ光の照射位置を直接観察可能な光学系を同軸上に配置し、CCDカメラでPD上の照射状態を直接観測できます。 PDF
ウェハレベル光素子テストシステム
LED・VCSEL・OLED等発光素子や、Si・InGaAs・Geフォトダーイオード等受光素子の電気特性・光学特性をウエハレベルで検査解析するシステムです。
システムは、セミオートプローバシステム・高機能NFP光学系またはレーザ照射光学系・各種電気光学測定器・制御測定解析用統合ソフトウェアで構成されます。
セミオートプローバシステムには、半導体製造・検査装置分野で卓越した性能を誇るドイツ・ズースマイクロテック社製システムを採用しています。
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Rf変調LD光源
カソードコモンタイプ半導体レーザダイオード(LD)駆動用電源です。LDパッケージ内臓フォトダイオードによるAPC制御(光出力一定モード)、フォトダイオード無しの場合のACC制御(駆動電流一定モード)に対応しています。
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小型軽量SMファイバ出力LD安定化光源
LDS1003

ピグテイルLDモジュールと駆動回路を組合せた小型軽量の低価格LD光源です。調整不要で、電源オン後直ちに1mWのLD光を出力します。
LD種類により、400nm帯〜1650nm帯で波長選択できます。
駆動回路はAPC機能を内蔵していますので、長時間安定した出力が得られます。
PD、PDICの感度特性評価に最適です。
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PD・PDIC検査評価装置